GUTSCHEIN
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| Reihe | Academic Press |
|---|---|
| ISBN | 9780323988636 |
| Sprache | Englisch |
| Erscheinungsdatum | 26.08.2022 |
| Größe | 229 x 152 mm |
| Verlag | Elsevier Inc |
| Herausgegeben von | Martin Hÿtch, Peter W. Hawkes |
| Lieferzeit | Lieferung in 7-14 Werktagen |
| Herstellerangaben | Anzeigen Libri GmbH Europaallee 1 | D-36244 Bad Hersfeld gpsr@libri.de |
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method.
| Reihe | Academic Press |
|---|---|
| ISBN | 9780323988636 |
| Sprache | Englisch |
| Erscheinungsdatum | 26.08.2022 |
| Größe | 229 x 152 mm |
| Verlag | Elsevier Inc |
| Herausgegeben von | Martin Hÿtch, Peter W. Hawkes |
| Lieferzeit | Lieferung in 7-14 Werktagen |
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