Advances in Imaging and Electron Physics

266 Seiten, Hardcover
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Reihe Academic Press
ISBN 9780323988636
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 26.08.2022
Größe 229 x 152 mm
Verlag Elsevier Inc
Herausgegeben von Martin Hÿtch, Peter W. Hawkes
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Europaallee 1 | D-36244 Bad Hersfeld
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Kurzbeschreibung des Verlags

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method.

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ISBN 9780323988636
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