Integrated Circuit Failure Analysis

von Beck
192 Seiten, Hardcover
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ISBN 9780471974017
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 19.01.1998
Größe 235 x 157 mm
Verlag John Wiley & Sons
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Boschstrasse 12 | DE-69469 Weinheim
product_safety@wiley.com
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Kurzbeschreibung des Verlags

Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.

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