Europäisches Patentübereinkommen. EPÜ

2142 Seiten, Hardcover

Kurzbeschreibung des Verlags

Zum Werk Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern.Vorteile auf einen Blick

Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker

gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard

Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften

Zur Neuauflage Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG).Zielgruppe Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

• Reihe: Beck'sche Kurz-Kommentare
• Themen: Recht Recht bestimmter Jurisdiktionen und bestimmter Rechtsgebiete Gesellschafts-, Handels- und Wettbewerbsrecht, allgemein
• ISBN: 9783406761959
• Sprache: Deutsch
• Erscheinungsdatum: 17.05.2023
• Größe: 24 x 16 cm
• Verlag: C.H.Beck
• Sonstige Bearbeitung von: Thomas Adam
• Sonstige Bearbeitung von: Ingo Beckedorf, Jochen Ehlers, Anna Bacchin, Ingo Beckedorf, Lars Birken, Jochen Ehlers, Rainer Fritsche, Klaus Grabinski, Volkmar Henke, Tobias H. Irmscher, Christof Keussen, Britta Kley, Matthias Koch, Magdalena Kolasa, Gert Kolle, Christian Osterrieth, Tilman Quarch, Roberto Romandini, Uwe Scharen, Heiko Sendrowski, Manuel Söldenwagner, Doris Thums, Jochen Unland