Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials

196 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Lecture Notes in Physics
Themen Geowissenschaften, Geographie, Umwelt, Planung Geowissenschaften Geologie und die Lithosphäre Petrologie (Gesteinskunde), Petrografie und Mineralogie
ISBN 9783540133599
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 01.07.1984
Größe 235 x 155 mm
Verlag Springer
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Kurzbeschreibung des Verlags

A brief background of the present requirement for structural characterization of disordered materials.- Fundamental relationships between rdf and scattering intensity.- Definition of partial structure factors and compositional short range order (CSRO).- Experimental determination of partial structural functions.- Nature of anomalous x-ray scattering and its application for structural analysis of disordered materials.- Theoretical aspects on the anomalous dispersion factors of x-rays.- Experimental determination of the anomalous dispersion factors.- Selected examples of structural determination using anomalous (resonance) x-ray scattering.- Relative merits of anomalous x-ray scattering and its future prospects.

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Themen Geowissenschaften, Geographie, Umwelt, Planung Geowissenschaften Geologie und die Lithosphäre Petrologie (Gesteinskunde), Petrografie und Mineralogie
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