Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy

Mapping Polycrystals and their Dynamics
156 Seiten, Hardcover
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Reihe Springer Tracts in Modern Physics
Themen Mathematik und Naturwissenschaften Physik Materialwissenschaft / Aggregatzustände Physik der kondensierten Materie (Flüssigkeits- und Festkörperphysik)
ISBN 9783540223306
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 31.08.2004
Größe 23.5 x 15.5 cm
Verlag Springer Berlin
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Kurzbeschreibung des Verlags

Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing.

The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.

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