Applied Scanning Probe Methods XI

Scanning Probe Microscopy Techniques
236 Seiten, Hardcover
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Reihe NanoScience and Technology
ISBN 9783540850366
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 04.11.2008
Genre Technik/Allgemeines, Lexika
Verlag Springer Berlin
Herausgegeben von Bharat Bhushan, Harald Fuchs
LieferzeitLieferbar in 11 Werktagen
HerstellerangabenAnzeigen
Springer Nature Customer Service Center GmbH
Europaplatz 3 | DE-69115 Heidelberg
ProductSafety@springernature.com
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Kurzbeschreibung des Verlags

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