Auch verfügbar als:
Bitte haben Sie einen Moment Geduld, wir legen Ihr Produkt in den Warenkorb.
| Reihe | Springer Series in Optical Sciences |
|---|---|
| Themen | Mathematik und Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie |
| ISBN | 9783642083723 |
| Sprache | Englisch |
| Erscheinungsdatum | 01.12.2010 |
| Größe | 23.5 x 15.5 cm |
| Verlag | Springer Berlin |
| Gastredaktion | P.W. Hawkes |
| Lieferzeit | Lieferung in 7-14 Werktagen |
| Herstellerangaben | Anzeigen Springer Nature Customer Service Center GmbH Europaplatz 3 | DE-69115 Heidelberg ProductSafety@springernature.com |
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.
| Reihe | Springer Series in Optical Sciences |
|---|---|
| Themen | Mathematik und Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie |
| ISBN | 9783642083723 |
| Sprache | Englisch |
| Erscheinungsdatum | 01.12.2010 |
| Größe | 23.5 x 15.5 cm |
| Verlag | Springer Berlin |
| Gastredaktion | P.W. Hawkes |
| Lieferzeit | Lieferung in 7-14 Werktagen |
| Herstellerangaben | Anzeigen Springer Nature Customer Service Center GmbH Europaplatz 3 | DE-69115 Heidelberg ProductSafety@springernature.com |
Wie gefällt Ihnen unser Shop?
