Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

320 Seiten, Taschenbuch

Kurzbeschreibung des Verlags

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.

• Reihe: Springer Series in Chemical Physics
• Themen: Mathematik und Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie
• ISBN: 9783642618734
• Sprache: Englisch
• Erscheinungsdatum: 13.12.2011
• Größe: 229 x 152 mm
• Verlag: Springer Berlin Heidelberg
• Herausgegeben von: H. A. Storms, R. Shimizu, A. Benninghoven, C. A. Jr. Evans, R. A. Powell