Scanning Tunneling Microscopy II

Further Applications and Related Scanning Techniques
308 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Springer Series in Surface Sciences
ISBN 9783642973659
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 12.02.2012
Genre Physik, Astronomie/Atomphysik, Kernphysik
Verlag Springer Berlin
Beiträge von W. Baumeister
Beiträge von Roland Wiesendanger, Hans-Joachim Güntherodt, P. Grütter, R. Guckenberger, Hans-Joachim Güntherodt, T. Hartmann, H. Heinzelmann, H.J. Mamin, E. Meyer, D.W. Pohl, D. Rugar, H. Siegenthaler, U. Staufer, H.K. Wickramasinghe, W. Wiegräbe, Roland Wiesendanger
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HerstellerangabenAnzeigen
Springer Nature Customer Service Center GmbH
ProductSafety@springernature.com
Unsere Prinzipien
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  • ✔ über 1,5 Mio. Bücher, DVDs & CDs im Angebot
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  • ✔ keine Weitergabe personenbezogener Daten an Dritte
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Kurzbeschreibung des Verlags

Scanning Tunneling Microscopy II, like its predecessor,
presents detailed and comprehensive accounts of the basic
principles and broad range of applications of STM and
related scanning probe techniques. The applications
discussed in this volume come predominantly from the fields
of electrochemistry and biology. In contrast to those
described in Vol. I, these sudies may be performed in air
and in liquids. The extensions of the basic technique to
map other interactions are described inchapters on scanning
force microscopy, magnetic force microscopy, scanning
near-field optical microscopy, together with a survey of
other related techniques. Also described here is the use of
a scanning proximal probe for surface modification.
Togehter, the two volumes give a comprehensive account of
experimental aspcets of STM. They provide essentialreading
and reference material for all students and researchers
involvedin this field.

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ISBN 9783642973659
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