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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
210 Seiten, Taschenbuch
€ 43.2
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Reihe | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung |
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ISBN | 9783731514022 |
Sprache | Englisch |
Erscheinungsdatum | 29.04.2025 |
Genre | Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Lieferzeit | Lieferbar in 6 Tagen |
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
Reihe | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung |
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ISBN | 9783731514022 |
Sprache | Englisch |
Erscheinungsdatum | 29.04.2025 |
Genre | Physik, Astronomie/Elektrizität, Magnetismus, Optik |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
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