Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces

210 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
Themen Mathematik und Naturwissenschaften Physik Elektrizität, Magnetismus und Elektromagnetismus
ISBN 9783731514022
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 29.04.2025
Größe 21 x 14.8 cm
Verlag KIT Scientific Publishing
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Kurzbeschreibung des Verlags

Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.

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ISBN 9783731514022
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