Switching Characteristics of Integrated GaN-on-Si Half-Bridge and Driver Circuits

153 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Science for Systems
Themen Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse Elektronik, Nachrichtentechnik Elektronik Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
ISBN 9783839617762
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 04.04.2022
Größe 21 x 14.8 cm
Verlag Fraunhofer Verlag
Herausgegeben von Oliver Ambacher, Fraunhofer IAF, Freiburg
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Kurzbeschreibung des Verlags

This work examines particularities in the switching characteristics of gallium nitride (GaN) half-bridge and driver circuits, which arise from the integration on a common conductive silicon (Si) substrate. The supposed advantages of monolithic integrated half-bridges and drivers are promising: The reduced parasitic interconnect inductance improves voltage-switching transitions. The Si carrier allows low-cost and large-scale fabrication. A single integrated IC simplifies the assembly compared to conventional multi-chip power modules. However, the operation of such integrated GaN-on-Si power circuits also evokes substrate-related effects, which were previously not relevant for discrete low-side GaN HEMTs. The experimental and theoretical investigation of this work on the switching characteristic of GaN-on-Si half-bridges with drivers on conductive Si substrates contributes to unlock the benefits of GaN HEMTs and monolithic power circuit integration for compact, clean switching and highly efficient power electronics.

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Themen Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse Elektronik, Nachrichtentechnik Elektronik Schaltkreise und Komponenten (Bauteile)
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