Assessment and Application of Defect Characterization via Lifetime Spectroscopy in High Purity C-Si

174 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Solare Energie- und Systemforschung / Solar Energy and Systems Research
Themen Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse Umweltwissenschaften, Umwelttechnik
ISBN 9783839619179
Sprache Englisch
Erscheinungsdatum 22.06.2023
Größe 21 x 14.8 cm
Verlag Fraunhofer Verlag
Herausgegeben von Fraunhofer ISE, Freiburg
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Kurzbeschreibung des Verlags

The performance limit of monocrystalline silicon solar cells is almost reached. Only marginal effects are limiting the excess carrier lifetime of nowadays used materials. Nonetheless it is interesting to investigate and characterize the limiting effects to improve the performance even further and to deepen the understanding, enabling new approaches and novel cell structures. This thesis tries to characterize limiting defect in high standard Gallium doped silicon via lifetime spectroscopy. To assess the validity of the results, the limits of this commonly used method (lifetime spectroscopy) are analyzed by evaluation of simulated lifetime data. Further, a guideline for future lifetime evaluations is given which can improve the outcome of the complex evaluation and helps differentiate between bulk and surface effects.

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Reihe Solare Energie- und Systemforschung / Solar Energy and Systems Research
Themen Technologie, Ingenieurswissenschaft, Landwirtschaft, Industrieprozesse Umweltwissenschaften, Umwelttechnik
ISBN 9783839619179
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Erscheinungsdatum 22.06.2023
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Verlag Fraunhofer Verlag
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