Deflektometrie zur automatischen Sichtprüfung und Rekonstruktion spiegelnder Oberflächen

282 Seiten, Taschenbuch
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Reihe Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung
Themen Informatik und Informationstechnologie Informatik
ISBN 9783866446878
Sprache Deutsch
Erscheinungsdatum 12.08.2011
Größe 21 x 14.8 cm
Verlag KIT Scientific Publishing
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Kurzbeschreibung des Verlags

Die Deflektometrie liefert Gestaltinformationen über spiegelnde Oberflächen durch Beobachtung von a priori bekannten Mustern. Zur automatischen Sichtprüfung von (teil)spiegelnden Objekten werden das Konzept der inversen Muster sowie Strategien zur Auswertung der deflektometrischen Registrierung präsentiert. Zur Rekonstruktion spiegelnder Flächen wird ein neuartiger Algorithmus dargelegt. Große, komplex geformte spiegelnde Objekte können mit den dargelegten Methoden geprüft und vermessen werden.

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Themen Informatik und Informationstechnologie Informatik
ISBN 9783866446878
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