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Reihe: NanoScience and Technology
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Low Dimensional Semiconductor Structures
Hardcover | Springer Berlin, 2012Lieferbar in 11 Werktagen€ 164,99 -
Noncontact Atomic Force Microscopy
Hardcover | Springer Berlin, 2002Lieferbar in 11 Werktagen€ 219,99 -
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
Taschenbuch | Springer Berlin, 2016Lieferbar in 6 Werktagen€ 219,99 -
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Francesco Marinello, Daniele Passeri,…Hardcover | Springer Berlin, 2012Lieferbar in 11 Werktagen€ 109,99 -
Electromagnetic Fluctuations at the Nanoscale
Taschenbuch | Springer Berlin, 2018Lieferbar in 6 Werktagen€ 142,99 -
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Applied Scanning Probe Methods IV
Hardcover | Springer Berlin, 2006Lieferung in 7-14 Werktagen€ 109,99 -
Noncontact Atomic Force Microscopy
Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Rola…Hardcover | Springer Berlin, 2009Lieferbar in 11 Werktagen€ 241,99 -
Applied Scanning Probe Methods VIII
Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahik…Hardcover | Springer Berlin, 2008Lieferbar in 11 Werktagen€ 164,99
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