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Reihe: Springer Series in Surface Sciences
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Semiconductor Surfaces and Interfaces
Taschenbuch | Springer Berlin, 2010Lieferbar in 6 Werktagen€ 384,99 -
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Helium Atom Scattering from Surfaces
Taschenbuch | Springer Berlin, 2010Lieferbar in 6 Werktagen€ 54,99 -
Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic ForcesTaschenbuch | Springer Berlin, 2013Lieferbar in 6 Werktagen€ 109,99 -
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Scanning Tunneling Microscopy III
Theory of STM and Related Scanning Probe MethodsTaschenbuch | Springer Berlin, 1996Lieferbar in 6 Werktagen€ 109,99 -
Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science
A User-Oriented GuideHardcover | Springer Berlin, 2012Lieferbar in 11 Werktagen€ 329,99 -
Auger Spectroscopy and Electronic Structure
Proceedings of the First International Workshop, Giardini Naxos-Taormina, Messina, Italy, September 10–14, 1988Taschenbuch | Springer Berlin, 2011Lieferbar in 6 Werktagen€ 109,99 -
Scanning Tunneling Microscopy I
General Principles and Applications to Clean and Adsorbate-Covered SurfacesTaschenbuch | Springer Berlin, 2012Lieferbar in 6 Werktagen€ 54,99 -
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