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Reihe: NanoScience and Technology

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  1. Low Dimensional Semiconductor Structures
    Low Dimensional Semiconductor Structures
    Characterization, Modeling and Applications
    Hilmi Ünlü, Norman J. M. Horing
    Hardcover | Springer Berlin, 2012
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 164,99
  2. Noncontact Atomic Force Microscopy
    Noncontact Atomic Force Microscopy
    S. Morita, Roland Wiesendanger, E. Meyer
    Hardcover | Springer Berlin, 2002
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 219,99
  3. Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
    Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
    Bharat Bhushan
    Taschenbuch | Springer Berlin, 2016
    Lieferbar in 6 Werktagen
    € 219,99
  4. Acoustic Scanning Probe Microscopy
    Acoustic Scanning Probe Microscopy
    Francesco Marinello, Daniele Passeri, Enrico Savio
    Hardcover | Springer Berlin, 2012
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 109,99
  5. Electromagnetic Fluctuations at the Nanoscale
    Electromagnetic Fluctuations at the Nanoscale
    Theory and Applications
    Aleksandr I. Volokitin, Bo N.J. Persson
    Taschenbuch | Springer Berlin, 2018
    Lieferbar in 6 Werktagen
    € 142,99
  6. Scanning Probe Microscopy
    Scanning Probe Microscopy
    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    Bert Voigtländer
    Taschenbuch | Springer Berlin, 2016
    Lieferbar in 6 Werktagen
    € 197,99
  7. Scanning Probe Microscopy
    Scanning Probe Microscopy
    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    Bert Voigtländer
    Hardcover | Springer Berlin, 2015
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 197,99
  8. Applied Scanning Probe Methods IV
    Applied Scanning Probe Methods IV
    Industrial Applications
    Bharat Bhushan, Harald Fuchs
    Hardcover | Springer Berlin, 2006
    Lieferung in 7-14 Werktagen
    € 109,99
  9. Noncontact Atomic Force Microscopy
    Noncontact Atomic Force Microscopy
    Volume 2
    Seizo Morita, Franz J. Giessibl, Roland Wiesendanger
    Hardcover | Springer Berlin, 2009
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 241,99
  10. Applied Scanning Probe Methods VIII
    Applied Scanning Probe Methods VIII
    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
    Hardcover | Springer Berlin, 2008
    Lieferbar in 11 Werktagen
    € 164,99
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