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- Reihe: Springer Series in Surface Sciences
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Optical Characterization of Thin Solid Films
Hardcover | Springer International Publishing, 2018Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 186,99 -
Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device CharacterizationHardcover | Springer International Publishing, 2018Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 241,99 -
Confocal Raman Microscopy
Hardcover | Springer International Publishing, 2018Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 274,99 -
Electrodeposition of Nanostructured Materials
Hardcover | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 186,99 -
Defects at Oxide Surfaces
Taschenbuch | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 109,99 -
Lab-on-Fiber Technology
Taschenbuch | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 109,99 -
Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Instrumentation and ApplicationsTaschenbuch | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 164,99 -
Ion Beam Modification of Solids
Ion-Solid Interaction and Radiation DamageHardcover | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 252,99 -
Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
Hardcover | Springer International Publishing, 2016Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 307,99 -
Defects at Oxide Surfaces
Hardcover | Springer International Publishing, 2015Sprache: EnglischLieferung in 7-14 Werktagen€ 109,99
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